ペルチェ素子を使用した温度特性試験の製品を販売しています。

ワイド冷熱プレート

ワイドな加熱&冷却プレートで複数サンプルの温度特性同時測定可能 CHP-3050HS

特長

  • 温度試験プレートの温度範囲は+5℃ ~ +80℃の広範囲な冷却・加熱が可能です
  • 温度試験プレートサイズは約300mm x 500mmで広範囲な均熱面積が得られます
  • 冷却加熱部は高信頼の日本製ペルチェ素子使用
  • 繰返しテストでの耐久性を保証
  • 温度コントローラー内蔵のオールインワン、即座に本格的な温度特性試験を開始できます
  • 温度センサーの校正や動作確認に、実験室・製造現場でお手軽に御使用できます
  • 薬品・化成品・食品の温度環境試験や保存にご使用ください
  • デバイス・計測機器の温度試験に最適です
  • 特許出願中
形     式 CHP-3050HS
使用デバイス CHP-77BX型空冷式ペルチェユニット
温度範囲 (℃) +5℃ ~ +80 (室温25℃)
温度調節器 SDC15 (アズビル社製)
プレート寸法 (mm) 300 x 500
プレート温度分布 (℃) ±2
温度制御精度 (℃) ±1.0
温度センサ Pt100 白金測温抵抗体
外観寸法 (mm) 340 x 540 x 260(H)
電源 電圧 (V) / 電流 (A) AC 100 / 5
アクリル蓋外観寸法(透明) (mm) 340 x 540 x 20(H)



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