インライン温特試験システム

概案図

特長

• AEC-Q100 規格『-40℃～+85℃』”信頼性向上の為”『-50℃～+125℃』の温度環境試験システムの実施
• ペルチェ冷熱プレートで温度サイクル試験が可能
• 個々のデバイス表面温度を高精度に温度制御　(±0.1℃)
• プレートサイズはデバイストレイに勘合する80ｘ160mm
• 高効率ペルチェ素子使用により温度印加速度が速い『-50℃→10分 +125℃→10分』
• ノンフロン、カーボンニュートラル、地球温暖化対応、SDGsにも対応

仕様

製品カタログ

製品に関するご質問、仕様に合わせた製品設計につきましては、お気軽にお問い合わせください。

システム概要

本システムは、従来の温度環境試験システムの冷却と加熱機能を持つ高効率ペルチェ素子を使用した、次世代型温度環境試験システムです。
温度範囲は-60℃～+150℃（温度設定可能範囲）で、PCと接続可能（RS-485）。温度サイクル試験が可能です。
温度センサーは Pt100 白金測温抵抗体を使用し、デバイストレイを素早く高精度に温調。
従来、高コストによりインライン導入が難しい温度環境試験システムがローコストで導入ができます。
冷却ユニットは各々独立しておりメンテナンスも容易にできます。

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