メモリーテスター用4DUT温特試験システム

サーモ代替デバイス温特試験システム

サーモ代替用に開発 4DUTペルチェ温調ヘッド
DUTをデバイス毎に温度設定、温調可能で温度安定度±0.1℃
-55℃から+140℃ コンタクト方式で信頼性の高い温度印加

サーモ代替デバイス温特試験システム
サーモ代替デバイス温特試験システム

特長

  • デバイスに温調ヘッドを直接コンタクトし温度印加、デバイスの急速な温度印加を可能に
  • プローブ型熱電対で個々のデバイス表面温度を直接測定
  • 個々のデバイス表面温度を高精度に温度制御 (±0.1℃)
  • 結露防止用窒素ガスパージ機能付き(窒素ガス発生装置TWC-05をオプションで選択可能)
  • テスターへクイック装着 専用カートでコンパクトに収納、移動も容易
  • テスター、パフォーマンスボード、ソケットに合わせ接触アタッチメントを設計

概案図

仕様

型式 PDT-4408 4DUTペルチェ温調ヘッド
温度範囲(℃) -55 ~ +140
温度コントローラ FC-4640(4CH温度コントローラ)
温度センサ プローブ型K熱電対
放熱方式 水冷式(冷却チラー使用)
冷却加熱方式 UT-4040×4枚
電源電圧(V) / 電流(A) 12 / 6.5
外形寸法(mm) 85×240×50(H)
接触アタッチメント凸部 別途お問い合わせ

 

製品カタログ

製品に関するご質問、仕様に合わせた製品設計につきましては、お気軽にお問い合わせください。

適合温度コントローラ

適合温度コントローラ

特長

本装置は、4DUTペルチェ温調ヘッドを駆動するために開発された温度コントローラです。
温度調節器は、プログラマブルコントローラを搭載、高精度な温度制御(±0.1℃の安定性)と広い温度範囲-60℃ 〜 +150℃(温度設定可能範囲)でPCと接続可能(RS-485)。
温度センサーはPt100、K型熱電対を使用し4CHを測温、温調可能なペルチェ温調制御装置です。

仕様

型式 FC-4640 4CH温度コントローラ
温度範囲(℃) -60 ~ +150(ペルチェの仕様による)
温度制御精度(℃) ±0.1℃
温度センサー Pt100 白金測温抵抗体、K型熱電対
ペルチェ用出力電圧(V) / 電流(A) 12V・4V / 6.5A
制御方式 / 温調器 時間比例PID制御 / SDC-25(アズビル社製)
温度プログラム 6点可能
電源電圧(V) AC 100〜240
外形寸法(mm) 430 x 350 x 149(H)
シリアル通信規格 / ポート RS-485 / 端子台

 

4CH温度コントローラシステムブロック図

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