メモリーテスター用4DUT温特試験システム
サーモ代替デバイス温特試験システム
サーモ代替用に開発 4DUTペルチェ温調ヘッド
DUTをデバイス毎に温度設定、温調可能で温度安定度±0.1℃
-55℃から+140℃ コンタクト方式で信頼性の高い温度印加
特長
- デバイスに温調ヘッドを直接コンタクトし温度印加、デバイスの急速な温度印加を可能に
- プローブ型熱電対で個々のデバイス表面温度を直接測定
- 個々のデバイス表面温度を高精度に温度制御 (±0.1℃)
- 結露防止用窒素ガスパージ機能付き(窒素ガス発生装置TWC-05をオプションで選択可能)
- テスターへクイック装着 専用カートでコンパクトに収納、移動も容易
- テスター、パフォーマンスボード、ソケットに合わせ接触アタッチメントを設計
概案図
仕様
型式 | PDT-4408 4DUTペルチェ温調ヘッド |
温度範囲(℃) | -55 ~ +140 |
温度コントローラ | FC-4640(4CH温度コントローラ) |
温度センサ | プローブ型K熱電対 |
放熱方式 | 水冷式(冷却チラー使用) |
冷却加熱方式 | UT-4040×4枚 |
電源電圧(V) / 電流(A) | 12 / 6.5 |
外形寸法(mm) | 85×240×50(H) |
接触アタッチメント凸部 | 別途お問い合わせ |
適合温度コントローラ
特長
本装置は、4DUTペルチェ温調ヘッドを駆動するために開発された温度コントローラです。
温度調節器は、プログラマブルコントローラを搭載、高精度な温度制御(±0.1℃の安定性)と広い温度範囲-60℃ 〜 +150℃(温度設定可能範囲)でPCと接続可能(RS-485)。
温度センサーはPt100、K型熱電対を使用し4CHを測温、温調可能なペルチェ温調制御装置です。
仕様
型式 | FC-4640 4CH温度コントローラ |
温度範囲(℃) | -60 ~ +150(ペルチェの仕様による) |
温度制御精度(℃) | ±0.1℃ |
温度センサー | Pt100 白金測温抵抗体、K型熱電対 |
ペルチェ用出力電圧(V) / 電流(A) | 12V・4V / 6.5A |
制御方式 / 温調器 | 時間比例PID制御 / SDC-25(アズビル社製) |
温度プログラム | 6点可能 |
電源電圧(V) | AC 100〜240 |
外形寸法(mm) | 430 x 350 x 149(H) |
シリアル通信規格 / ポート | RS-485 / 端子台 |